Pushing the Resolution Limits of the Force Microscope: from Steps to Atoms and Atomic Orbitals

Giessibl, Franz J. (2002) Pushing the Resolution Limits of the Force Microscope: from Steps to Atoms and Atomic Orbitals. In: Proceedings of the Scanning Probe Microscopy-2002 (SPM-2002) Workshop : 3 March - 6 March 2002, Nizhny Novgorod, Russia. Physics of low-dimensional structures, 2002,5/6. VSV, Moskau, S. 172-174.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 10 Jul 2012 14:32
Buchkapitel

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Beteiligte Einrichtungen

• Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl

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Details

Dokumentenart	Buchkapitel
Buchtitel:	Proceedings of the Scanning Probe Microscopy-2002 (SPM-2002) Workshop : 3 March - 6 March 2002, Nizhny Novgorod, Russia
Verlag:	VSV
Ort der Veröffentlichung:	Moskau
Sonstige Reihe:	Physics of low-dimensional structures
Band:	2002,5/6
Seitenbereich:	S. 172-174
Datum	2002
Institutionen	Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Dewey-Dezimal-Klassifikation	500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status	Veröffentlicht
Begutachtet	Unbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstanden	Unbekannt / Keine Angabe
Dokumenten-ID	25333

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