Force Microscopy in Vacuum with Atomic Resolution

Giessibl, Franz J. (1999) Force Microscopy in Vacuum with Atomic Resolution. In: Kuk, Y. und Lyo, I. W. und Jeon, D. und Park, S. I., (eds.) Preliminary proceedings of STM : 10th Int'l Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Proximal Probe Microscopy ; 19 - 23 July, 1999, Seoul, Korea. , S. 19-20.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 10 Jul 2012 14:34
Buchkapitel

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Beteiligte Einrichtungen

• Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl

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Details

Dokumentenart	Buchkapitel
Buchtitel:	Preliminary proceedings of STM : 10th Int'l Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Proximal Probe Microscopy ; 19 - 23 July, 1999, Seoul, Korea
Seitenbereich:	S. 19-20
Datum	1999
Institutionen	Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Dewey-Dezimal-Klassifikation	500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status	Veröffentlicht
Begutachtet	Unbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstanden	Unbekannt / Keine Angabe
Dokumenten-ID	25335

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