Startseite UR

Interface magnetization profiling by x-ray magnetometry of marker impurities on Fe/GaAs(001)-(4x6)

Giovanelli, L. ; Panaccione, G. ; Rossi, G. ; Fabrizioli, M. ; Tian, C. ; Gastelois, P. ; Fujii, J. ; Back, Christian


Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags
  1. Universität

Universitätsbibliothek

Publikationsserver

Kontakt:

Publizieren: oa@ur.de
0941 943 -4239 oder -69394

Dissertationen: dissertationen@ur.de
0941 943 -3904

Forschungsdaten: datahub@ur.de
0941 943 -5707

Ansprechpartner