Time-resolved scanning near-field microscopy of InGaN laser diode dynamics
Schwarz, Uli, Lauterbach, C., Schillgalies, M., Rumbolz, C., Furitsch, M., Lell, A. und Härle, V. (2006) Time-resolved scanning near-field microscopy of InGaN laser diode dynamics. SPIE proceedings 6184, 61840K.Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 05 Aug 2009 13:40
Artikel
Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel |
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | SPIE proceedings |
| Band: | 6184 |
|---|---|
| Seitenbereich: | 61840K |
| Datum | 2006 |
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Ulrich Schwarz |
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik |
| Status | Veröffentlicht |
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet |
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja |
| Dokumenten-ID | 2564 |
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