Facet degradation of GaN heterostructure laser diodes
Artikel
Schoedl, T., Schwarz, Uli, Kümmler, V., Furitsch, M., Leber, A., Miler, A., Lell, A. und Härle, V. (2005) Facet degradation of GaN heterostructure laser diodes. Journal of Appli ed Physics 97, S. 123102.Alternative Links zum Volltext
Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel |
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Journal of Appli ed Physics |
| Band | 97 |
| Seitenbereich | S. 123102 |
| Datum | 2005 |
| Veröffentlichungsdatum | 05 Aug 2009 13:40 |
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Ulrich Schwarz |
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik |
| Status | Veröffentlicht |
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet |
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja |
| Dokumenten-ID | 2590 |
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