Schoedl, T. ; Schwarz, Uli ; Miller, S. ; Leber, A. ; Furitsch, M. ; Lell, A. ; Härle, V.

Facet degradation of (Al,In)GaN laser diodes

Artikel

Schoedl, T., Schwarz, Uli, Miller, S., Leber, A., Furitsch, M., Lell, A. und Härle, V. (2004) Facet degradation of (Al,In)GaN laser diodes. phys. stat. sol. (a) 201, S. 2635.

Beteiligte Einrichtungen

Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Ulrich Schwarz
Browse Publikationen

Details

Dokumentenart	Artikel
Titel eines Journals oder einer Zeitschrift	phys. stat. sol. (a)
Band	201
Seitenbereich	S. 2635
Datum	2004
Veröffentlichungsdatum	05 Aug 2009 13:40
Institutionen	Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Ulrich Schwarz
Dewey-Dezimal-Klassifikation	500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status	Veröffentlicht
Begutachtet	Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden	Ja
Dokumenten-ID	2602

Bibliographische Daten exportieren

Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags

Weitere Literatur (mittels CORE)

nach oben