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Kümmler, V. ; Brüderl, G. ; Bader, S. ; Miller, S. ; Weimar, A. ; Lell, A. ; Härle, V. ; Schwarz, Uli ; Gmeinwieser, N. ; Wegscheider, Werner

Degradation Analysis of InGaN Laser Diodes

Kümmler, V., Brüderl, G., Bader, S., Miller, S., Weimar, A., Lell, A., Härle, V., Schwarz, Uli, Gmeinwieser, N. und Wegscheider, Werner (2002) Degradation Analysis of InGaN Laser Diodes. phys. stat. sol. (a) 194, S. 419.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 05 Aug 2009 13:40
Artikel


Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer Zeitschriftphys. stat. sol. (a)
Band:194
Seitenbereich:S. 419
Datum2002
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Ulrich Schwarz
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID2610

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