Alternative Links zum Volltext:DOI
| Dokumentenart: | Artikel | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift: | Journal of Electronic Materials | ||||
| Verlag: | TMS | ||||
| Band: | 39 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels: | 7 | ||||
| Seitenbereich: | S. 918-923 | ||||
| Datum: | 2010 | ||||
| Institutionen: | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Professor Ganichev > Arbeitsgruppe Sergey Ganichev | ||||
| Identifikationsnummer: |
| ||||
| Stichwörter / Keywords: | Growth, HgTe, HgCdTe, quantum wells (QWs), ellipsometric parameters, MBE, far-infrared, mid-infrared, detector | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation: | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status: | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet: | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden: | Unbekannt / Keine Angabe | ||||
| Dokumenten-ID: | 27852 |
Metadaten zuletzt geändert: 19 Jan 2026 12:15
Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags
Altmetric
Altmetric