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Hochauflösende Rasterkraftmikroskopie auf Graphen und Kohlenmonoxid

Hofmann, Thomas (2014) Hochauflösende Rasterkraftmikroskopie auf Graphen und Kohlenmonoxid. Dissertationsreihe der Fakultät für Physik der Universität Regensburg 37, PhD, Universität Regensburg.

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Date of publication of this fulltext: 07 Jul 2014 14:40

Abstract (German)

Rasterkraftmikroskope sind essentielle Hilfsmittel zur Untersuchung der atomaren Struktur von Oberflächen. Für die Interpretation der Messung ist es allerdings in vielen Fällen notwendig, genaue Information über die chemischen und strukturellen Eigenschaften des Spitzenclusters zu haben. Im ersten Teil der Arbeit wird gezeigt, dass sowohl die kristallographische Orientierung als auch die ...

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Translation of the abstract (English)

Atomic force microscopes are essential tools for the investigation of surfaces on the atomic scale. In many cases, however, it is mandatory to have detailed information about the chemical and structural properties of the tip cluster for a clear interpretation of the measurements. In the first part of the thesis it is shown that both the crystallographic orientation and the chemical nature of a ...

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Item type:Thesis of the University of Regensburg (PhD)
Series of the University of Regensburg:Dissertationsreihe der Fakultät für Physik der Universität Regensburg
Date:7 July 2014
Referee:Prof. Dr. Franz J. Giessibl
Date of exam:20 March 2014
Institutions:Physics > Institute of Experimental and Applied Physics > Chair Professor Giessibl > Group Franz J. Giessibl
Keywords:scanning probe microscopy, graphene, tip characterization, carbon monoxide
Dewey Decimal Classification:500 Science > 530 Physics
Status:Published
Refereed:Yes, this version has been refereed
Created at the University of Regensburg:Yes
Item ID:29735
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