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Hochauflösende Rasterkraftmikroskopie auf Graphen und Kohlenmonoxid

URN to cite this document:
urn:nbn:de:bvb:355-epub-297356
Hofmann, Thomas
Date of publication of this fulltext: 07 Jul 2014 14:40


Abstract (German)

Rasterkraftmikroskope sind essentielle Hilfsmittel zur Untersuchung der atomaren Struktur von Oberflächen. Für die Interpretation der Messung ist es allerdings in vielen Fällen notwendig, genaue Information über die chemischen und strukturellen Eigenschaften des Spitzenclusters zu haben. Im ersten Teil der Arbeit wird gezeigt, dass sowohl die kristallographische Orientierung als auch die ...

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Translation of the abstract (English)

Atomic force microscopes are essential tools for the investigation of surfaces on the atomic scale. In many cases, however, it is mandatory to have detailed information about the chemical and structural properties of the tip cluster for a clear interpretation of the measurements. In the first part of the thesis it is shown that both the crystallographic orientation and the chemical nature of a ...

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