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Image correction for atomic force microscopy images with functionalized tips

URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-epub-299109

Neu, Mathias, Moll, Nikolaj, Gross, Leo, Meyer, Gerhard, Giessibl, Franz J. und Repp, Jascha (2014) Image correction for atomic force microscopy images with functionalized tips. Physical Review B 89 (20), S. 205407.

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Andere URL zum Volltext: http://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevB.89.205407


Zusammenfassung

It has been demonstrated that atomic force microscopy imaging with CO-functionalized tips provides unprecedented resolution, yet it is subject to strong image distortions. Here we propose a method to correct for these distortions. The lateral force acting on the tip apex is calculated from three-dimensional maps of the frequency shift signal. Assuming a linear relationship between lateral distortion and force, atomic force microscopy images could be deskewed for different substrate systems.


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Dokumentenart:Artikel
Datum:7 Mai 2014
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Jascha Repp
Projekte:SPP 1243: Quantum transport at the molecular scale
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1103/PhysRevB.89.205407DOI
Klassifikation:
NotationArt
68.37.PsPACS
68.43.FgPACS
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Zum Teil
Eingebracht am:08 Mai 2014 08:23
Zuletzt geändert:08 Mrz 2017 08:37
Dokumenten-ID:29910
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