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- URN to cite this document:
- urn:nbn:de:bvb:355-epub-344812
- DOI to cite this document:
- 10.5283/epub.34481
Abstract (English)
Scanning probe microscopy (SPM) methods allow for investigations of the atomistic world in real space. While scanning tunneling microscopy (STM) is sensitive to the electronic structure of the sample, its geometry can be explored by means of atomic force microscopy (AFM). Suitable functionalization of the AFM tip enables resolving the chemical structure of individual molecules at low temperatures ...
Translation of the abstract (German)
Rastersondenmikroskopie (SPM) macht die Untersuchung der atomaren Welt im Realraum möglich. Während man mit Rastertunnel-Mikroskopie (STM) die elektronische Struktur einer Probe untersucht, können ihre geometrischen Eigenschaften mittels Rasterkraft-Mikroskopie (AFM) erforscht werden. Unter ultrahoch-vakuum Bedingungen bei tiefen Temperaturen erlaubt die Funktionalisierung der AFM-Spitze mit ...