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Mittendorff, Martin ; Kamann, Josef ; Eroms, Jonathan ; Weiss, Dieter ; Drexler, Christoph ; Ganichev, Sergey ; Kerbusch, Jochen ; Erbe, Artur ; Suess, Ryan J. ; Murphy, Thomas E. ; Chatterjee, Sangam ; Kolata, Kolja ; Ohser, Joachim ; Koenig-Otto, Jacob ; Schneider, Harald ; Helm, Manfred ; Winnerl, Stephan

Universal ultrafast detector for short optical pulses based on graphene

Mittendorff, Martin , Kamann, Josef, Eroms, Jonathan , Weiss, Dieter, Drexler, Christoph, Ganichev, Sergey, Kerbusch, Jochen, Erbe, Artur , Suess, Ryan J., Murphy, Thomas E. , Chatterjee, Sangam , Kolata, Kolja, Ohser, Joachim, Koenig-Otto, Jacob, Schneider, Harald , Helm, Manfred und Winnerl, Stephan (2015) Universal ultrafast detector for short optical pulses based on graphene. Opt. Express 23 (22), S. 28728-28735.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 02 Dez 2016 12:15
Artikel
DOI zum Zitieren dieses Dokuments: 10.5283/epub.34921


Zusammenfassung

Graphene has unique optical and electronic properties that make it attractive as an active material for broadband ultrafast detection. We present here a graphene-based detector that shows 40-picosecond electrical rise time over a spectral range that spans nearly three orders of magnitude, from the visible to the far-infrared. The detector employs a large area graphene active region with ...

Graphene has unique optical and electronic properties that make it attractive as an active material for broadband ultrafast detection. We present here a graphene-based detector that shows 40-picosecond electrical rise time over a spectral range that spans nearly three orders of magnitude, from the visible to the far-infrared. The detector employs a large area graphene active region with interdigitated electrodes that are connected to a log-periodic antenna to improve the long-wavelength collection efficiency, and a silicon carbide substrate that is transparent throughout the visible regime. The detector exhibits a noise-equivalent power of approximately 100 mu W.Hz(-1/2) and is characterized at wavelengths from 780 nm to 500 mu m. (C) 2015 Optical Society of America



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftOpt. Express
Verlag:OPTICAL SOC AMER
Ort der Veröffentlichung:WASHINGTON
Band:23
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels:22
Seitenbereich:S. 28728-28735
DatumNovember 2015
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Professor Ganichev > Arbeitsgruppe Sergey Ganichev
Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Weiss > Arbeitsgruppe Dieter Weiss
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1364/OE.23.028728DOI
Stichwörter / KeywordsDEEP IMPURITIES; TERAHERTZ; PHOTODETECTORS; SEMICONDUCTORS; TRANSISTORS; IONIZATION; RADIATION; LASER;
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
URN der UB Regensburgurn:nbn:de:bvb:355-epub-349218
Dokumenten-ID34921

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