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- URN to cite this document:
- urn:nbn:de:bvb:355-epub-357456
- DOI to cite this document:
- 10.5283/epub.35745
Abstract (English)
This thesis describes the investigation of fundamental properties of molecules in the tunnelling junction using combined scanning tunneling (STM) and atomic force microscopy (AFM). In this work, five different experimental topics are addressed. A reduction of the single-particle level spacing of two frontier orbitals enables the manifestation of strong electron-correlation effects in single ...
Translation of the abstract (German)
Diese Dissertation beschreibt die Untersuchung fundamentaler Eigenschaften einzelner Moleküle im Tunnelkontakt unter kombinierter Benutzung von Rastertunnelmikroskopie und Rasterkraftmikroskopie. Der Fokus liegt auf unterschiedlichen Ladungsprozessen in Molekülen, es wurden aber auch thermisch aktivierte chemische Reaktionen auf Oberflächen untersucht.