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- URN zum Zitieren dieses Dokuments:
- urn:nbn:de:bvb:355-epub-361982
- DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
- 10.5283/epub.36198
Zusammenfassung (Englisch)
Simulations of electron and ion tracking in Ionization Profile Monitors are an important tool for specifying and designing new monitors. They are also essential for understanding the effects related to the ionization process, guiding field non-uniformities and influence of the beam fields which may lead to a distortion of measured beam profiles. Most of these effects cannot be treated ...
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Übersetzung der Zusammenfassung (Deutsch)
Simulationen der Elektronen- und Ionenbewegungen in Ionisationsprofilmonitoren sind ein wichtiges Werkzeug für die Ausarbeitung und den Entwurf neuer solcher Messgeräte. Ebenso spielen sie eine wichtige Rolle für das Verständnis von Effekten, die mit dem Ionisationvorgang, den Unregelmäßigkeiten externer elektromagnetischer Felder und dem Einfluss der Teilchenstrahlfelder zusammenhängen, und ...
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