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Evaluation of local free carrier concentrations in individual heavily-doped GaN:Si micro-rods by micro-Raman spectroscopy

Mohajerani, M. S. ; Khachadorian, S. ; Schimpke, T. ; Nenstiel, C. ; Hartmann, J. ; Ledig, J. ; Avramescu, A. ; Strassburg, M. ; Hoffmann, A. ; Waag, A.



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