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- URN zum Zitieren dieses Dokuments:
- urn:nbn:de:bvb:355-epub-447797
- DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
- 10.5283/epub.44779
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Zusammenfassung
A novel and cost-efficient probe fabrication method yielding probes for performing simultaneous scanning electrochemical microscopy (SECM) and scanning ion conductance microscopy (SICM) is presented. Coupling both techniques allows distinguishing topographical and electrochemical activity information obtained by SECM. Probes were prepared by deposition of photoresist onto platinum-coated, pulled ...
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