| Dokumentenart: | Artikel | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift: | Microelectronics Reliability | ||||
| Band: | 88-90 | ||||
| Seitenbereich: | S. 299-303 | ||||
| Datum: | 2018 | ||||
| Institutionen: | Nicht ausgewählt | ||||
| Identifikationsnummer: |
| ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation: | Nicht ausgewählt | ||||
| Status: | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet: | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden: | Ja | ||||
| Dokumenten-ID: | 46822 |
Metadaten zuletzt geändert: 29 Sep 2021 07:42
Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags
Altmetric
Altmetric