Direkt zum Inhalt

Schwenk, Johannes ; Kim, Sungmin ; Berwanger, Julian ; Ghahari, Fereshte ; Walkup, Daniel ; Slot, Marlou R. ; Le, Son T. ; Cullen, William G. ; Blankenship, Steven R. ; Vranjkovic, Sasa ; Hug, Hans J. ; Kuk, Young ; Giessibl, Franz J. ; Stroscio, Joseph A.

Achieving μeV tunneling resolution in an in-operando scanning tunneling microscopy, atomic force microscopy, and magnetotransport system for quantum materials research

Artikel

Schwenk, Johannes, Kim, Sungmin , Berwanger, Julian, Ghahari, Fereshte, Walkup, Daniel, Slot, Marlou R., Le, Son T., Cullen, William G., Blankenship, Steven R., Vranjkovic, Sasa, Hug, Hans J., Kuk, Young, Giessibl, Franz J. und Stroscio, Joseph A. (2020) Achieving μeV tunneling resolution in an in-operando scanning tunneling microscopy, atomic force microscopy, and magnetotransport system for quantum materials research. Review of Scientific Instruments 91 (7), 071101.



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftReview of Scientific Instruments
VerlagAMER INST PHYSICS
Ort der VeröffentlichungMELVILLE
Band91
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels7
Seitenbereich071101
Datum2020
Veröffentlichungsdatum11 Okt 2021 12:46
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1063/5.0005320DOI
Stichwörter / KeywordsGRAPHENE; SPECTROSCOPY; FILTERS; SENSOR; PROBE;
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID49894

Bibliographische Daten exportieren

Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags

nach oben