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Schwenk, Johannes ; Kim, Sungmin ; Berwanger, Julian ; Ghahari, Fereshte ; Walkup, Daniel ; Slot, Marlou R. ; Le, Son T. ; Cullen, William G. ; Blankenship, Steven R. ; Vranjkovic, Sasa ; Hug, Hans J. ; Kuk, Young ; Giessibl, Franz J. ; Stroscio, Joseph A.

Achieving μeV tunneling resolution in an in-operando scanning tunneling microscopy, atomic force microscopy, and magnetotransport system for quantum materials research

Schwenk, Johannes, Kim, Sungmin , Berwanger, Julian, Ghahari, Fereshte, Walkup, Daniel, Slot, Marlou R., Le, Son T., Cullen, William G., Blankenship, Steven R., Vranjkovic, Sasa, Hug, Hans J., Kuk, Young, Giessibl, Franz J. und Stroscio, Joseph A. (2020) Achieving μeV tunneling resolution in an in-operando scanning tunneling microscopy, atomic force microscopy, and magnetotransport system for quantum materials research. Review of Scientific Instruments 91 (7), 071101.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 11 Okt 2021 12:46
Artikel



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftReview of Scientific Instruments
Verlag:AMER INST PHYSICS
Ort der Veröffentlichung:MELVILLE
Band:91
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels:7
Seitenbereich:071101
Datum2020
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1063/5.0005320DOI
Stichwörter / KeywordsGRAPHENE; SPECTROSCOPY; FILTERS; SENSOR; PROBE;
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID49894

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