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Rickhaus, Peter ; Liu, Ming-Hao ; Kurpas, Marcin ; Kurzmann, Annika ; Lee, Yongjin ; Overweg, Hiske ; Eich, Marius ; Pisoni, Riccardo ; Taniguchi, Takashi ; Watanabe, Kenji ; Richter, Klaus ; Ensslin, Klaus ; Ihn, Thomas

The electronic thickness of graphene

Rickhaus, Peter , Liu, Ming-Hao , Kurpas, Marcin , Kurzmann, Annika , Lee, Yongjin, Overweg, Hiske, Eich, Marius, Pisoni, Riccardo, Taniguchi, Takashi, Watanabe, Kenji, Richter, Klaus, Ensslin, Klaus und Ihn, Thomas (2020) The electronic thickness of graphene. Science Advances 6 (11), eaay8409.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 11 Okt 2021 13:01
Artikel



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftScience Advances
Verlag:AMER ASSOC ADVANCEMENT SCIENCE
Ort der Veröffentlichung:WASHINGTON
Band:6
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels:11
Seitenbereich:eaay8409
Datum2020
InstitutionenPhysik > Institut für Theoretische Physik > Lehrstuhl Professor Richter > Arbeitsgruppe Klaus Richter
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1126/sciadv.aay8409DOI
Stichwörter / KeywordsHETEROSTRUCTURES; INTERFERENCE; STATES; DRAG;
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID50254

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