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Rickhaus, Peter ; Liu, Ming-Hao ; Kurpas, Marcin ; Kurzmann, Annika ; Lee, Yongjin ; Overweg, Hiske ; Eich, Marius ; Pisoni, Riccardo ; Taniguchi, Takashi ; Watanabe, Kenji ; Richter, Klaus ; Ensslin, Klaus ; Ihn, Thomas

The electronic thickness of graphene

Artikel

Rickhaus, Peter , Liu, Ming-Hao , Kurpas, Marcin , Kurzmann, Annika , Lee, Yongjin, Overweg, Hiske, Eich, Marius, Pisoni, Riccardo, Taniguchi, Takashi, Watanabe, Kenji, Richter, Klaus, Ensslin, Klaus und Ihn, Thomas (2020) The electronic thickness of graphene. Science Advances 6 (11), eaay8409.



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftScience Advances
VerlagAMER ASSOC ADVANCEMENT SCIENCE
Ort der VeröffentlichungWASHINGTON
Band6
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels11
Seitenbereicheaay8409
Datum2020
Veröffentlichungsdatum11 Okt 2021 13:01
InstitutionenPhysik > Institut für Theoretische Physik > Lehrstuhl Professor Richter > Arbeitsgruppe Klaus Richter
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1126/sciadv.aay8409DOI
Stichwörter / KeywordsHETEROSTRUCTURES; INTERFERENCE; STATES; DRAG;
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID50254

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