Note: In situ cleavage of crystallographic oriented tips for scanning probe microscopy
Artikel
Wutscher, T. und Giessibl, F. J.
(2011)
Note: In situ cleavage of crystallographic oriented tips for scanning probe microscopy.
Review of Scientific Instruments 82 (2).
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Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Review of Scientific Instruments | ||||
| Verlag | AMER INST PHYSICS | ||||
| Ort der Veröffentlichung | MELVILLE | ||||
| Band | 82 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels | 2 | ||||
| Datum | 2011 | ||||
| Veröffentlichungsdatum | 19 Dez 2024 11:15 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Stichwörter / Keywords | ATOMIC-FORCE MICROSCOPY; RESOLUTION; SURFACE; | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 65242 |
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