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Scholz, Dominik ; Braun, Harald ; Schwarz, Ulrich T. ; Brüninghoff, Stefanie ; Queren, Désirée ; Lell, Alfred ; Strauss, Uwe

Measurement and simulation of filamentation in (Al,In)GaN laser diodes

Artikel

Scholz, Dominik, Braun, Harald, Schwarz, Ulrich T. , Brüninghoff, Stefanie, Queren, Désirée, Lell, Alfred und Strauss, Uwe (2008) Measurement and simulation of filamentation in (Al,In)GaN laser diodes. Optics Express 16 (10), S. 6846.



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Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftOptics Express
VerlagOPTICAL SOC AMER
Ort der VeröffentlichungWASHINGTON
Band16
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels10
SeitenbereichS. 6846
Datum2008
Veröffentlichungsdatum19 Dez 2024 13:19
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Ulrich Schwarz
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1364/OE.16.006846DOI
Stichwörter / KeywordsQUANTUM-WELL LASERS; SEMICONDUCTOR-LASER; NEAR-FIELD; DYNAMICS; BEHAVIOR;
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID68140

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