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Interface magnetization profiling by x-ray magnetometry of marker impurities on Fe∕GaAs(001)-(4×6)

Giovanelli, L. ; Panaccione, G. ; Rossi, G. ; Fabrizioli, M. ; Tian, C. S. ; Gastelois, P. L. ; Fujii, J. ; Back, C. H.



Zusammenfassung

We use Co atoms dispersed in a ferromagnetic Fe film as a magnetic marker material to probe the magnetic properties of the Fe film grown epitaxially on GaAs(001)-(4x6). X-ray magnetic circular dichroism on Co L-2,L-3 edges has been used to perform, in a Mossbauer-like experiment, a layer-dependent analysis. We find an enhancement of the Co orbital magnetic moment near the interface with the GaAs ...

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