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Amorphous Silicon, Flat-Panel, X-ray Detector

Hamer, Okka W. ; Strotzer, Michael ; Zorger, Niels ; Paetzel, Christian ; Lerch, Klaus ; Feuerbach, Stefan ; Völk, Markus



Zusammenfassung

Rationale and Objectives: To evaluate composed long-leg images acquired with a large-area, flat-panel x-ray detector with regard to angle and distance measurements. Methods: Radiographs of a long-leg phantom were acquired at 13 different angle settings with a 43-cm x 43-cm digital x-ray detector based on cesium iodide (CsI) and amorphous silicon (a-Si) technology. Three overlapping single images ...

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