Strain analysis of a quantum-wire system produced by cleaved edge overgrowth using grazing incidence x-ray diffraction
Sztucki, M., Schülli, T. U., Metzger, T. H., Chamard, V.
, Schuster, R. und Schuh, D.
(2003)
Strain analysis of a quantum-wire system produced by cleaved edge overgrowth using grazing incidence x-ray diffraction.
Applied Physics Letters 83 (5), S. 872-874.
Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 19 Dez 2024 15:26
Artikel
Alternative Links zum Volltext
Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Applied Physics Letters | ||||
| Verlag: | AMER INST PHYSICS | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Ort der Veröffentlichung: | MELVILLE | ||||
| Band: | 83 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels: | 5 | ||||
| Seitenbereich: | S. 872-874 | ||||
| Datum | 2003 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Stichwörter / Keywords | ASSEMBLED GE ISLANDS; NANOSTRUCTURES; EPITAXY; SURFACE; WELLS; GAAS; GAS; | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 72122 |
Bibliographische Daten exportieren
Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags
Altmetric
Altmetric