The local defect index up to finite ambiguity
Artikel
Bechtluft-Sachs, Stefan und Hien, Marco (2002) The local defect index up to finite ambiguity. Topology and its Applications 119 (2), S. 113-116.Alternative Links zum Volltext
Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Topology and its Applications | ||||
| Verlag | ELSEVIER SCIENCE BV | ||||
| Ort der Veröffentlichung | AMSTERDAM | ||||
| Band | 119 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels | 2 | ||||
| Seitenbereich | S. 113-116 | ||||
| Datum | 2002 | ||||
| Veröffentlichungsdatum | 19 Dez 2024 15:43 | ||||
| Institutionen | Mathematik | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Stichwörter / Keywords | ; Hopf invariant; defect index | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 510 Mathematik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 73039 |
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