First-principles study of Raman intensities in semiconductor systems
Pavone, Pasquale, Steininger, Bernhard und Strauch, Dieter (2001) First-principles study of Raman intensities in semiconductor systems. Computational Materials Science 20 (3-4), S. 363-370.Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 19 Dez 2024 15:53
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Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Computational Materials Science | ||||
| Verlag: | ELSEVIER SCIENCE BV | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Ort der Veröffentlichung: | AMSTERDAM | ||||
| Band: | 20 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels: | 3-4 | ||||
| Seitenbereich: | S. 363-370 | ||||
| Datum | 2001 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Theoretische Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Dieter Strauch | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Stichwörter / Keywords | PHONON DISPERSIONS; ALLOYS; | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 73782 |
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