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Lechner, Lorenz, Gaaß, Markus, Paila, Antti, Sillanpää, Mika A., Strunk, Christoph 
und Hakonen, Pertti J.
(2011)
Microwave reflection measurement of critical currents in a nanotube Josephson transistor with a resistive environment.
Nanotechnology 22 (12), S. 125203.
Volltext nicht vorhanden.
und Hakonen, Pertti J.
(2011)
Microwave reflection measurement of critical currents in a nanotube Josephson transistor with a resistive environment.
Nanotechnology 22 (12), S. 125203.
Volltext nicht vorhanden.