Einträge von Altmann, Hans auf dem Publikationsserver
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Olbrich, Alexander, Ebersberger, Bernd, Boit, Christian, Vancea, Johann, Hoffmann, Horst, Altmann, Hans, Gieres, Guenther und Wecker, Joachim
(2001)
Oxide thickness mapping of ultrathin Al2O3 at nanometer scale with conducting atomic force microscopy.
Applied Physics Letters 78 (19), S. 2934-2936.
Volltext nicht vorhanden.