Einträge von Gieres, Guenther auf dem Publikationsserver
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2001
Olbrich, Alexander, Ebersberger, Bernd, Boit, Christian, Vancea, Johann, Hoffmann, Horst, Altmann, Hans, Gieres, Guenther und Wecker, Joachim
(2001)
Oxide thickness mapping of ultrathin Al2O3 at nanometer scale with conducting atomic force microscopy.
Applied Physics Letters 78 (19), S. 2934-2936.
Volltext nicht vorhanden.