Einträge von Sham, T. K. auf dem Publikationsserver

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Sammynaiken, R., Naftel, S. J, Sham, T. K., Cheah, K. W., Averboukh, B., Huber, Rupert, Shen, Y. R., Qin, G. G., Ma, Z. C. und Zong, W. H. (2002) Structure and electronic properties of SiO₂/Si multilayer superlattices: Si K edge and L₃,₂ edge x-ray absorption fine structure study. Journal of Applied Physics 92 (6), S. 3000-3006. Zugang zum Volltext eingeschränkt.

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