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Titova, Lyubov V., Cocker, Tyler L., Xu, Sijia, Baribeau, Jean-Marc, Wu, Xiaohua, Lockwood, David J. und Hegmann, Frank A. (2016) Ultrafast carrier dynamics and the role of grain boundaries in polycrystalline silicon thin films grown by molecular beam epitaxy. Semiconductor Science and Technology 31 (10), S. 105017. Volltext nicht vorhanden.

Diese Liste wurde erzeugt am Thu Nov 21 12:35:06 2024 CET.
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