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Note: In situ cleavage of crystallographic oriented tips for scanning probe microscopy

Wutscher, Thorsten und Giessibl, Franz J. (2011) Note: In situ cleavage of crystallographic oriented tips for scanning probe microscopy. Review of Scientific Instruments 82 (2), 026106.

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Andere URL zum Volltext: http://dx.doi.org/doi/10.1063/1.3549628


Zusammenfassung

We report an in situ method of preparing tips for scanning probe microscopy (SPM). Oriented single-crystal nickel oxide (NiO) rods were diced, using a wafer saw, to prepare artificial breaking points. Two geometries, a single rod and a two-sided cut rod were fabricated. The cleavable tips were mounted to a force sensor based on a quartz tuning fork and cleaved using the coarse approach of the SPM. Atomically resolved force microscopy images of NiO (001) were taken with these NiO tips.


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Dokumentenart:Artikel
Datum:2011
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Projekte:SFB 689: Spinphänomene in reduzierten Dimensionen
Identifikationsnummer:
WertTyp
DOI:10.1063/1.3549628DOI
Klassifikation:
NotationArt
07.79.LhPACS
06.60.Ei PACS
Stichwörter / Keywords:atomic force microscopy; crystal faces; force sensors; image resolution; nickel compounds; specimen preparation
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:07 Sep 2011 08:31
Zuletzt geändert:27 Okt 2016 11:52
Dokumenten-ID:22073
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