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Analysis of force-deconvolution methods in frequency-modulation atomic force microscopy

Welker, Joachim und Illek, Esther und Giessibl, Franz J. (2012) Analysis of force-deconvolution methods in frequency-modulation atomic force microscopy. Beilstein Journal of Nanotechnology 3, S. 238-248.

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Zusammenfassung

In frequency-modulation atomic force microscopy the direct observable is the frequency shift of an oscillating cantilever in a force field. This frequency shift is not a direct measure of the actual force, and thus, to obtain the force, deconvolution methods are necessary. Two prominent methods proposed by Sader and Jarvis (Sader–Jarvis method) and Giessibl (matrix method) are investigated with ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:14 März 2012
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Projekte:GRK 1570, Elektronische Eigenschaften von Nanostrukturen auf Kohlenstoff-Basis
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.3762/bjnano.3.27DOI
Stichwörter / Keywords:frequency-modulation atomic force microscopy; force deconvolution; numerical implementation
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:05 Jul 2012 05:53
Zuletzt geändert:12 Mai 2016 08:23
Dokumenten-ID:25273
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