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Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2

Morita, Seizo und Giessibl, Franz J. und Wiesendanger, Roland, eds. (2009) Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2. NanoScience and Technology. Springer, Heidelberg, Berlin. ISBN Hardcover 978-3-642-01494-9; eBook ISBN 978-3-642-01495-6; Softcover ISBN: 978-3-642-26070-4.

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Zusammenfassung

Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution; tuning fork; atomic manipulation; magnetic exchange force ...

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Bibliographische Daten exportieren



Dokumentenart:Buch
Datum:2009
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:05 Jul 2012 06:08
Zuletzt geändert:08 Jun 2016 13:29
Dokumenten-ID:25281
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