Anzahl der Einträge: 4.
2018
Schaffus, T.,
Albert, P.,
Breuer, W.,
Debie, D.,
Graml, M.,
Hollerith, C.,
Kroninger, F.,
Mack, W.,
Pfaff, H.,
Schaffus, M. und
Walter, J.
(2018)
Influence of sample preparation on intrinsic stresses inside a model Chip - First results of partial decapsulation.
Microelectronics Reliability 88-90, S. 299-303.
Volltext nicht vorhanden.
2002
2001
Zenger, M.,
Breuer, W.,
Zölfl, M.,
Pulwey, Ralph,
Raabe, Jörg und
Weiss, Dieter
(2001)
Electrodeposition of NiFe and Fe nanopilars.
IEEE Transactions on Magnetics 37, S. 2094.
Volltext nicht vorhanden.
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