Anzahl der Einträge: 2.
2012
Rosenauer, A.,
Müller, K.,
Mehrtens, T.,
Schowalter, M.,
Zweck, Josef,
Fritz, R. und
Volz, K.
(2012)
Measurement of Composition and Strain by STEM.
Microscopy and Microanalysis 18 Supl.2, S. 1804-0815.
Müller, K.,
Rosenauer, A.,
Schowalter, M.,
Zweck, Josef,
Fritz, R. und
Volz, K.
(2012)
Strain Measurement in Semiconductor Heterostructures by Scanning Transmission Electron Microscopy.
Microscopy and Microanalysis 18, S. 995-1009.
Diese Liste wurde erzeugt am Fri Apr 26 15:45:40 2024 CEST.