Startseite UR

Conduction mechanism in granular Ru02-based thick-film resistors

URN zum Zitieren dieses Dokuments:
urn:nbn:de:bvb:355-epub-188256
DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
10.5283/epub.18825
Schoepe, Wilfried
[img]
Vorschau
PDF
(161kB)
Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 20 Dez 2010 14:09


Zusammenfassung

The conductivity of a commercial thick-film resistor is measured between 4 K and 15 mK and in magnetic fields up to 7 Tesla. The data can be described by the variable-range hopping mechanism with a Coulomb gap in the density of states. The negative magnetoresistance may be attributed to quantum-interference effects in the strongly localized regime.


Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags
  1. Universität

Universitätsbibliothek

Publikationsserver

Kontakt:

Publizieren: oa@ur.de
0941 943 -4239 oder -69394

Dissertationen: dissertationen@ur.de
0941 943 -3904

Forschungsdaten: datahub@ur.de
0941 943 -5707

Ansprechpartner