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Trapping and escape of negative ions from the surface of liquid 4He

URN zum Zitieren dieses Dokuments:
urn:nbn:de:bvb:355-epub-188821
DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
10.5283/epub.18882
Rayfield, G. W. ; Schoepe, Wilfried
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Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 23 Dez 2010 10:26


Zusammenfassung

The lifetime of electrons deposited on the liquid surface of 4He was measured. It is smaller than 8 μs at 0.5 K and, as is concluded from its temperature dependence, governed by the electronic mobility parallel to the superfluid surface.


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