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Trapping and escape of negative ions from the surface of liquid 4He
Rayfield, G. W. und Schoepe, Wilfried (1971) Trapping and escape of negative ions from the surface of liquid 4He. Physics Letters, A 34 (2), S. 133-134.Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 23 Dez 2010 10:26
Artikel
DOI zum Zitieren dieses Dokuments: 10.5283/epub.18882
Zusammenfassung
The lifetime of electrons deposited on the liquid surface of 4He was measured. It is smaller than 8 μs at 0.5 K and, as is concluded from its temperature dependence, governed by the electronic mobility parallel to the superfluid surface.
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Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Physics Letters, A | ||||
| Verlag: | Elsevier | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Band: | 34 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels: | 2 | ||||
| Seitenbereich: | S. 133-134 | ||||
| Datum | 1971 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Prof. Wilfried Schoepe | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Unbekannt / Keine Angabe | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Unbekannt / Keine Angabe | ||||
| URN der UB Regensburg | urn:nbn:de:bvb:355-epub-188821 | ||||
| Dokumenten-ID | 18882 |
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