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Trapping and escape of negative ions from the surface of liquid 4He

URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-epub-188821

Rayfield, G. W. und Schoepe, Wilfried (1971) Trapping and escape of negative ions from the surface of liquid 4He. Physics Letters, A 34 (2), S. 133-134.

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Zusammenfassung

The lifetime of electrons deposited on the liquid surface of 4He was measured. It is smaller than 8 μs at 0.5 K and, as is concluded from its temperature dependence, governed by the electronic mobility parallel to the superfluid surface.


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Dokumentenart:Artikel
Datum:1971
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Prof. Wilfried Schoepe
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1016/0375-9601(79)90670-4DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Unbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:23 Dez 2010 10:26
Zuletzt geändert:08 Mrz 2017 08:28
Dokumenten-ID:18882
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