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Hamerle, Alfred ; Igl, Andreas ; Plank, Kilian

Correlation Smile, Volatility Skew and Systematic Risk Sensitivity of Tranches.

Hamerle, Alfred, Igl, Andreas und Plank, Kilian (2012) Correlation Smile, Volatility Skew and Systematic Risk Sensitivity of Tranches. Journal of Derivatives. (Im Druck)

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 24 Mrz 2011 07:39
Artikel


Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftJournal of Derivatives
Datum2012
InstitutionenWirtschaftswissenschaften > Institut für Betriebswirtschaftslehre > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Lehrstuhl für Statistik (Prof. Dr. Alfred Hamerle)
Dewey-Dezimal-Klassifikation300 Sozialwissenschaften > 330 Wirtschaft
300 Sozialwissenschaften > 310 Statistik
StatusIm Druck
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID20258

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