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Welker, Joachim ; de Faria Elsner, Frederico ; Giessibl, Franz J.

Application of the equipartition theorem to the thermal excitation of quartz tuning forks

Welker, Joachim, de Faria Elsner, Frederico und Giessibl, Franz J. (2011) Application of the equipartition theorem to the thermal excitation of quartz tuning forks. Applied Physics Letters 99, 084102.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 31 Aug 2011 07:44
Artikel
DOI zum Zitieren dieses Dokuments: 10.5283/epub.21966


Zusammenfassung

The deflection signal of a thermally excited force sensor of an atomic force microscope can be analyzed to gain important information about the detector noise and about the validity of the equipartion theorem of thermodynamics. Here, we measured the temperature dependence of the thermal amplitude of a tuning fork and compared it to the expected values based on the equipartition theorem. In doing ...

The deflection signal of a thermally excited force sensor of an atomic force microscope can be analyzed to gain important information about the detector noise and about the validity of the equipartion theorem of thermodynamics. Here, we measured the temperature dependence of the thermal amplitude of a tuning fork and compared it to the expected values based on the equipartition theorem. In doing so, we prove the validity of these assumptions in the temperature range from 140 K to 300 K. Furthermore, the application of the equipartition theorem to quartz tuning forks at liquid helium temperatures is discussed. (C) 2011 American Institute of Physics. [doi:10.1063/1.3627184]



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftApplied Physics Letters
Verlag:AMER INST PHYSICS
Ort der Veröffentlichung:MELVILLE
Band:99
Seitenbereich:084102
Datum2011
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1063/1.3627184DOI
Klassifikation
NotationArt
07.10.PzPACS
Stichwörter / KeywordsATOMIC-FORCE MICROSCOPY; SENSOR; SURFACE;
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
URN der UB Regensburgurn:nbn:de:bvb:355-epub-219669
Dokumenten-ID21966

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