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Welker, Joachim ; Giessibl, Franz J.

Revealing the Angular Symmetry of Chemical Bonds by Atomic Force Microscopy

Welker, Joachim und Giessibl, Franz J. (2012) Revealing the Angular Symmetry of Chemical Bonds by Atomic Force Microscopy. Science 336 (608), S. 444-449.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 16 Mai 2012 09:48
Artikel
DOI zum Zitieren dieses Dokuments: 10.5283/epub.24414


Zusammenfassung

We have measured the angular dependence of chemical bonding forces between a carbon monoxide molecule that is adsorbed to a copper surface and the terminal atom of the metallic tip of a combined scanning tunneling microscope and atomic force microscope. We provide tomographic maps of force and current as a function of distance that revealed the emergence of strongly directional chemical bonds as ...

We have measured the angular dependence of chemical bonding forces between a carbon monoxide molecule that is adsorbed to a copper surface and the terminal atom of the metallic tip of a combined scanning tunneling microscope and atomic force microscope. We provide tomographic maps of force and current as a function of distance that revealed the emergence of strongly directional chemical bonds as tip and sample approach. The force maps show pronounced single, dual, or triple minima depending on the orientation of the tip atom, whereas tunneling current maps showed a single minimum for all three tip conditions. We introduce an angular dependent model for the bonding energy that maps the observed experimental data for all observed orientations and distances.



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftScience
Verlag:AMER ASSOC ADVANCEMENT SCIENCE
Ort der Veröffentlichung:WASHINGTON
Band:336
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels:608
Seitenbereich:S. 444-449
Datum27 April 2012
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1126/science.1219850DOI
Stichwörter / KeywordsSCANNING-TUNNELING-MICROSCOPY; ELECTRONIC-STRUCTURE; GIANT CORRUGATIONS; SURFACE; RESOLUTION; MOLECULES; CO; SPECTROSCOPY; MANIPULATION; SILICON;
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
URN der UB Regensburgurn:nbn:de:bvb:355-epub-244147
Dokumenten-ID24414

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