URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-epub-252710
Giessibl, Franz J. und Bielefeldt, Hartmut (2000) Physical interpretation of frequency-modulation atomic force microscopy. Physical Review B (PRB) 61 (15), S. 9968-9971.
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Andere URL zum Volltext: http://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevB.61.9968
Zusammenfassung
Frequency modulation atomic force microscopy is a method for imaging the surface of metals, semiconductors and insulators in ultrahigh vacuum with true atomic resolution. The imaging signal in this technique is the frequency shift Δf of an oscillating cantilever with eigenfrequency f0, spring constant k and amplitude A, which is subject to tip-sample forces Fts. Here, we present analytical ...
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| Dokumentenart: | Artikel | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Datum: | 15 April 2000 | ||||
| Institutionen: | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl | ||||
| Projekte: | BMBF 13N6918 | ||||
| Identifikationsnummer: |
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| Dewey-Dezimal-Klassifikation: | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status: | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet: | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden: | Unbekannt / Keine Angabe | ||||
| Eingebracht am: | 10 Jul 2012 13:48 | ||||
| Zuletzt geändert: | 08 Mrz 2017 08:33 | ||||
| Dokumenten-ID: | 25271 |
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