Welker, Joachim, Illek, Esther und Giessibl, Franz J. (2012) Analysis of force-deconvolution methods in frequency-modulation atomic force microscopy. Beilstein Journal of Nanotechnology 3, S. 238-248.
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Zusammenfassung
In frequency-modulation atomic force microscopy the direct observable is the frequency shift of an oscillating cantilever in a force field. This frequency shift is not a direct measure of the actual force, and thus, to obtain the force, deconvolution methods are necessary. Two prominent methods proposed by Sader and Jarvis (Sader–Jarvis method) and Giessibl (matrix method) are investigated with ...
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| Dokumentenart: | Artikel | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Datum: | 14 März 2012 | ||||
| Institutionen: | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl | ||||
| Projekte: | GRK 1570, Elektronische Eigenschaften von Nanostrukturen auf Kohlenstoff-Basis | ||||
| Identifikationsnummer: |
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| Stichwörter / Keywords: | frequency-modulation atomic force microscopy; force deconvolution; numerical implementation | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation: | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status: | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet: | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden: | Ja | ||||
| Eingebracht am: | 05 Jul 2012 05:53 | ||||
| Zuletzt geändert: | 02 Jun 2018 22:16 | ||||
| Dokumenten-ID: | 25273 |
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