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| Dokumentenart: | Artikel | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift: | Physics today | ||||||||
| Verlag: | AMER INST PHYSICS | ||||||||
| Ort der Veröffentlichung: | MELVILLE | ||||||||
| Band: | 59 | ||||||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels: | 12 | ||||||||
| Seitenbereich: | S. 44-50 | ||||||||
| Datum: | Dezember 2006 | ||||||||
| Institutionen: | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl | ||||||||
| Identifikationsnummer: |
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| Klassifikation: |
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| Stichwörter / Keywords: | SILICON (111)-(7X7) SURFACE; RESOLUTION; DEFECTS; | ||||||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation: | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||||||
| Status: | Veröffentlicht | ||||||||
| Begutachtet: | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||||||
| An der Universität Regensburg entstanden: | Zum Teil | ||||||||
| Dokumenten-ID: | 25317 |
Web of Science
Metadaten zuletzt geändert: 29 Sep 2021 07:39
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