Direkt zum Inhalt

Schwarz, Uli ; Pindl, M. ; Sturm, Evi ; Furitsch, M. ; Leber, A. ; Miller, S. ; Lell, A. ; Härle, V.

Influence of ridge geometry on lateral mode stability of (In/Al)GaN laser diodes

Artikel

Schwarz, Uli, Pindl, M., Sturm, Evi, Furitsch, M., Leber, A., Miller, S., Lell, A. und Härle, V. (2005) Influence of ridge geometry on lateral mode stability of (In/Al)GaN laser diodes. phys. stat. sol. (a) 202, S. 261.


Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer Zeitschriftphys. stat. sol. (a)
Band202
SeitenbereichS. 261
Datum2005
Veröffentlichungsdatum05 Aug 2009 13:40
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Ulrich Schwarz
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID2593

Bibliographische Daten exportieren

Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags

nach oben