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Impact of thermal frequency drift on highest precision force microscopy using quartz-based force sensors at low temperatures

Pielmeier, Florian, Meuer, Daniel, Schmid, Daniel R., Strunk, Christoph und Giessibl, Franz J. (2014) Impact of thermal frequency drift on highest precision force microscopy using quartz-based force sensors at low temperatures. Beilstein Journal of Nanotechnology (5), S. 407-412.

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Zusammenfassung

In frequency modulation atomic force microscopy (FM-AFM) the stability of the eigenfrequency of the force sensor is of key importance for highest precision force measurements. Here, we study the influence of temperature changes on the resonance frequency of force sensors made of quartz, in a temperature range from 4.8–48 K. The sensors are based on the qPlus and length extensional principle. The ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:4 April 2014
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Projekte:SFB 689: Spinphänomene in reduzierten Dimensionen
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.3762/bjnano.5.48DOI
Stichwörter / Keywords:AFM; frequency drift; length extensional resonator; needle sensor; qPlus sensor; quartz
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:08 Apr 2014 07:37
Zuletzt geändert:07 Jun 2016 12:02
Dokumenten-ID:29772
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