Impact of thermal frequency drift on highest precision force microscopy using quartz-based force sensors at low temperatures
Artikel
Pielmeier, Florian, Meuer, Daniel, Schmid, Daniel R., Strunk, Christoph und Giessibl, Franz J.
(2014)
Impact of thermal frequency drift on highest precision force microscopy using quartz-based force sensors at low temperatures.
Beilstein Journal of Nanotechnology (5), S. 407-412.
Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Beilstein Journal of Nanotechnology | ||||
| Verlag | BEILSTEIN-INSTITUT | ||||
| Ort der Veröffentlichung | FRANKFURT AM MAIN | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels | 5 | ||||
| Seitenbereich | S. 407-412 | ||||
| Datum | 4 April 2014 | ||||
| Veröffentlichungsdatum | 08 Apr 2014 07:37 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Weiss > Arbeitsgruppe Christoph Strunk | ||||
| Identifikationsnummer |
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| Stichwörter / Keywords | VELOCITY-MEASUREMENTS; ATOMIC-RESOLUTION; IRRADIATED QUARTZ; TUNING FORK; EXPANSION; OPERATION; | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 29772 |
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