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Ganichev, Sergey ; Tarasenko, Sergey ; Karch, Johannes ; Kamann, Josef ; Kvon, Z. D.

Magnetic quantum ratchet effect in Si-MOSFETs

Ganichev, Sergey, Tarasenko, Sergey, Karch, Johannes, Kamann, Josef und Kvon, Z. D. (2014) Magnetic quantum ratchet effect in Si-MOSFETs. Journal of Physics: Condensed Matter 26 (25), S. 255802.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 20 Mrz 2015 08:27
Artikel
DOI zum Zitieren dieses Dokuments: 10.5283/epub.31494


Zusammenfassung

We report on the observation of magnetic quantum ratchet effect in metal-oxidesemiconductor field-effect-transistors on silicon surface (Si-MOSFETs). We show that the excitation of an unbiased transistor by ac electric field of terahertz radiation at normal incidence leads to a direct electric current between the source and drain contacts if the transistor is subjected to an in-plane magnetic ...

We report on the observation of magnetic quantum ratchet effect in metal-oxidesemiconductor field-effect-transistors on silicon surface (Si-MOSFETs). We show that the excitation of an unbiased transistor by ac electric field of terahertz radiation at normal incidence leads to a direct electric current between the source and drain contacts if the transistor is subjected to an in-plane magnetic field. The current rises linearly with the magnetic field strength and quadratically with the ac electric field amplitude. It depends on the polarization state of the ac field and can be induced by both linearly and circularly polarized radiation. We present the quasi-classical and quantum theories of the observed effect and show that the current originates from the Lorentz force acting upon carriers in asymmetric inversion channels of the transistors.



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    Ganichev, Sergey, Tarasenko, Sergey, Karch, Johannes, Kamann, Josef und Kvon, Z. D. (2014) Magnetic quantum ratchet effect in Si-MOSFETs. Journal of Physics: Condensed Matter 26 (25), S. 255802. [Gegenwärtig angezeigt]

Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftJournal of Physics: Condensed Matter
Verlag:IOP PUBLISHING LTD
Ort der Veröffentlichung:BRISTOL
Band:26
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels:25
Seitenbereich:S. 255802
Datum3 Juni 2014
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Professor Ganichev > Arbeitsgruppe Sergey Ganichev
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1088/0953-8984/26/25/255802DOI
Klassifikation
NotationArt
85.30.TvPACS
73.40.QvPACS
78.40.FyPACS
Stichwörter / KeywordsDETECTORS; ratchet effect; metal-oxide-semiconductor field-effect-transistors; high-frequency transport
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
URN der UB Regensburgurn:nbn:de:bvb:355-epub-314948
Dokumenten-ID31494

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