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Albrecht, F. ; Repp, Jascha ; Fleischmann, M. ; Scheer, M. ; Ondráček, M. ; Jelínek, P.

Probing Charges on the Atomic Scale by Means of Atomic Force Microscopy

Albrecht, F., Repp, Jascha , Fleischmann, M., Scheer, M. , Ondráček, M. und Jelínek, P. (2015) Probing Charges on the Atomic Scale by Means of Atomic Force Microscopy. Physical Review Letters 115, 076101.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 20 Aug 2015 10:25
Artikel
DOI zum Zitieren dieses Dokuments: 10.5283/epub.32349


Zusammenfassung

Kelvin probe force spectroscopy was used to characterize the charge distribution of individual molecules with polar bonds. Whereas this technique represents the charge distribution with moderate resolution for large tip-molecule separations, it fails for short distances. Here, we introduce a novel local force spectroscopy technique which allows one to better disentangle electrostatic from other ...

Kelvin probe force spectroscopy was used to characterize the charge distribution of individual molecules with polar bonds. Whereas this technique represents the charge distribution with moderate resolution for large tip-molecule separations, it fails for short distances. Here, we introduce a novel local force spectroscopy technique which allows one to better disentangle electrostatic from other contributions in the force signal. It enables one to obtain charge-related maps at even closer tip-sample distances, where the lateral resolution is further enhanced. This enhanced resolution allows one to resolve contrast variations along individual polar bonds.



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftPhysical Review Letters
Verlag:AMER PHYSICAL SOC
Ort der Veröffentlichung:COLLEGE PK
Band:115
Seitenbereich:076101
Datum13 August 2015
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Arbeitsgruppe Jascha Repp
Chemie und Pharmazie > Institut für Anorganische Chemie
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1103/PhysRevLett.115.076101DOI
Stichwörter / KeywordsDYNAMIC FORCE MICROSCOPY; SINGLE-MOLECULE; RESOLUTION;
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
500 Naturwissenschaften und Mathematik > 540 Chemie
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
URN der UB Regensburgurn:nbn:de:bvb:355-epub-323498
Dokumenten-ID32349

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