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Probing Charges on the Atomic Scale by Means of Atomic Force Microscopy

URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-epub-323498

Albrecht, F., Repp, Jascha, Fleischmann, M., Scheer, M., Ondráček, M. und Jelínek, P. (2015) Probing Charges on the Atomic Scale by Means of Atomic Force Microscopy. Physical Review Letters 115, 076101.

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Zusammenfassung

Kelvin probe force spectroscopy was used to characterize the charge distribution of individual molecules with polar bonds. Whereas this technique represents the charge distribution with moderate resolution for large tip-molecule separations, it fails for short distances. Here, we introduce a novel local force spectroscopy technique which allows one to better disentangle electrostatic from other ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:13 August 2015
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Jascha Repp
Chemie und Pharmazie > Institut für Anorganische Chemie > Lehrstuhl Prof. Dr. Manfred Scheer
Projekte:GRK 1570, Elektronische Eigenschaften von Nanostrukturen auf Kohlenstoff-Basis
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1103/PhysRevLett.115.076101DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
500 Naturwissenschaften und Mathematik > 540 Chemie
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:20 Aug 2015 10:25
Zuletzt geändert:08 Mrz 2017 08:39
Dokumenten-ID:32349
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