The Influence of Chemical Bonding Configuration on Atomic Identification by Force Spectroscopy
Welker, Joachim, Weymouth, Alfred J.
und Giessibl, Franz J.
(2013)
The Influence of Chemical Bonding Configuration on Atomic Identification by Force Spectroscopy.
ACS NANO 7 (8), S. 7377-7382.
Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 30 Mai 2016 06:00
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Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | ACS NANO | ||||
| Verlag: | AMER CHEMICAL SOC | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Ort der Veröffentlichung: | WASHINGTON | ||||
| Band: | 7 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels: | 8 | ||||
| Seitenbereich: | S. 7377-7382 | ||||
| Datum | 10 Juli 2013 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Stichwörter / Keywords | SILICON (111)-(7X7) SURFACE; ELECTRONIC-STRUCTURE; MICROSCOPY; RECONSTRUCTION; DISCRIMINATION; SI(111)-(7X7); SI(111)7X7; RESOLUTION; ORDER; atomic force microscopy; chemical identification; atomic forces | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 33802 |
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